分析・解析

安心してご依頼して頂くために…

RoHS 指令を始めとする環境負荷物質の管理が注目されているなか、ニシハラ理工では分析・解析機器を充実させており、お客様に安心してご依頼いただける体制を整えております。

 
 

分析・解析機器

 

 

1.めっき皮膜 分析・解析機器

機器目的
デジタルマイクロ
スコープ
めっき表面観察
異物付着観察
寸法計測
走査型電子顕微鏡
(SEM)
粒子・試料表面観察
電子線マイクロ
アナライザー
(EDS)
定性・定量分析
クロスセクション
ポリッシャー
(CP)
金属間化合物観察
内部構造観察
蛍光X線分析装置 めっき厚測定
めっき皮膜組成分析
融点測定装置融点測定
溶融状態観察
電気接点シミュレーター接触抵抗測定
デジタルフォースゲージ密着力測定
ソルダーチェッカーゼロクロスタイム測定
はんだ濡れ性測定
ビッカース硬さ試験機めっき皮膜硬さ測定
表面粗さ計めっき表面粗さ測定
傷の深さ測定
SEM  「Ni めっき上Sn めっき化合物層調査」
SEM
デジタルマイクロスコープ「部分Au めっきコネクター観察」
デジタルマイクロスコープ
ソルダーチェッカー グラフと測定原理
ソルダーチェッカー ソルダーチェッカー
 

2.めっき皮膜 環境試験装置

機器目的
プレッシャークッカー
試験装置(PCT)
高温・高湿・高圧試験
環境炉高温・高湿試験
塩水噴霧試験機塩水噴霧試験

3.めっき液 分析装置

機器目的
高周波プラズマ発光分析装置(ICP)めっき液中の微量成分析
めっき皮膜成分分析
分光光度計めっき液中の添加剤濃度測定
排水処理液分析
電位差自動滴定装置めっき液中の成分測定
蛍光X 線分析装置「めっき膜厚分布調査」
蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置
SEM+EDS+CP  「アルミ電解コンデンサの断面観察」
SEM+EDS+CP SEM+EDS+CP
ICP 「分析可能元素とスペクトル」
ICP ICP